测试半导体生产加工工艺技术及制造大全
1、 用于半导体测试系统的晶片图象显示装置和方法
2、 半导体存储装置及其测试方法
3、 装有存储器和逻辑芯片的可测试存储器芯片的半导体器件
4、 半导体存储器及其测试方法
5、 半导体测试器件的测试板分割装置
6、 半导体集成电路及其测试方法
7、 用于快速测试的半导体取送机
8、 半导体器件测试处理机中的校准装置
9、 识别半导体器件测试处理机中器件传送系统的工作位置的装置和方法
10、 半导体器件的测试系统
11、 半导体封装元件测试装置
12、 半导体集成电路的设计方法和测试方法
13、 维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统
14、 具有测试模式的半导体存储器及应用它的存储系统
15、 半导体存储装置及其测试方法和测试电路
16、 半导体测试用测试板
17、 半导体测试装置、半导体器件测试用接触基板、半导体器件的测试方法、半导体器件及其制造方法
18、 在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列
19、 未封装半导体芯片的测试装置
20、 半导体存储器及其测试电路、存储器系统、和数据传送系统
21、 控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及测试法
22、 半导体元件直流耐压自动测试器
23、 半导体存储器件多位并行测试方法
24、 半导体器件特性测试装置
25、 半导体存储器件应力状态的自动测试设备
26、 半导体光敏管动态特性测试方法
27、 半导体存贮器的老化使能电路及相应的老化测试方法
28、 半导体存储器的多位测试电路
29、 具有可测试部件块的半导体集成电路
30、 带有测试电路的半导体集成电路
31、 有待测其存储电路的半导体器件、测试方法及其读电路
32、 一种测试半导体存储器件的方法及一种半导体存储器件
33、 半导体存储装置及其测试方法
34、 半导体器件及其测试方法
35、 半导体元件分离端缺陷评价测试结构和评价方法
36、 半导体器件测试装置
37、 动态型半导体存储器及其测试方法
38、 半导体装置及其制造方法和其测试方法
39、 用于测试半导体装置的机械手系统中的传送带装置
40、 半导体器件的测试设备
41、 半导体器件测试装置
42、 半导体集成电路和同步动态随机存储器核心的测试方法
43、 半导体测试系统
44、 控制半导体集成电路测试过程的系统和方法
45、 半导体元件测试装置
46、 用于测试半导体装置的机械手系统的取放装置
47、 半导体器件测试仪器和用于该测试仪器的测试盘
48、 有能将测试方式可靠复位的电路的同步型半导体存储装置
49、 半导体集成电路测试装置
50、 具有测试模式的半导体存储装置
51、 不管备用单元配置情况如何都能进行测试的半导体存储器
52、 半导体器件的测试方法和带标识晶体管电路的半导体器件
53、 半导体器件的修补测试方法
54、 具有内部测试电路的半导体集成电路器件
55、 组合式半导体可靠性测试系统
56、 半导体器件的测试及半导体器件制造方法
57、 半导体器件测试座和使用该座的半导体器件制造方法
58、 数模转换器以及使用其的半导体集成电路和测试方法
59、 半导体组件和测试与运作一个半导体组件的方法
60、 半导体器件测试装置的测试头定位装置
61、 操作损耗减小的半导体器件测试系统
62、 半导体器件测试装置
63、 用于检测半导体器件测试设备操作错误的方法
64、 半导体器件测试用探针及其制造方法和使用它的探针装置
65、 测试半导体器件的探针卡及半导体器件测试方法
66、 半导体存储器器件以及在测试模式中读取该器件的方法
67、 含有宏的半导体器件及其测试方法
68、 具有可测试部件块的半导体集成电路
69、 一种清洁半导体集成块测试插座的清洁膜和清洁方法
70、 半导体集成电路及其测试方法
71、 通道设置密集且低成本的用于互补型金属氧化物半导体的测试器
72、 具有可抑制电路规模增大的测试电路的半导体装置和半导体装置的试验装置
73、 用于检测数字半导体电路装置的测试电路及方法
74、 测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡和方法
75、 有测试模式判断电路的半导体存储器
76、 半导体器件测试用接触开关及其制造方法
77、 故障检测半导体测试系统
78、 特定用途的基于事件的半导体存储器测试系统
79、 半导体测试系统的数据失效存储压缩
80、 用于半导体测试系统的电源电流测量单元
81、 基于特定应用事件的半导体测试系统
82、 测试半导体器件的方法和设备
83、 半导体器件测试方法和测试装置
84、 半导体集成电路的测试方法和测试装置
85、 半导体集成电路器件的制造方法及其测试设备
86、 半导体器件及用于制造半导体器件的测试方法
87、 远程半导体测试方法和装置
88、 半导体集成电路的测试装置及半导体集成电路的测试方法
89、 可缩短测试时间的半导体存储装置
90、 为优化测试技术和冗余技术而形成的半导体存储器件
91、 用于减少输入测试模式的输入周期数的半导体存储器
92、 半导体测试仪的程序执行系统
93、 基于事件的半导体测试系统
94、 用于半导体测试系统的模式发生器
95、 具有测试元件组元件的半导体器件
96、 半导体存储器元件测试结构及其装置和测试方法
97、 可扩充频道的半导体多管芯测试系统及方法
98、 具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统
99、 电压测量方法电测试方法和装置半导体器件制造方法和器件衬底制造方法
100、 支持多虚拟逻辑测试仪的半导体测试系统
101、 基于模块的灵活的半导体测试系统
102、 半导体测试装置及其监视装置
103、 半导体集成电路和测试容易化电路的自动插入方法
104、 一种对气体传感器或半导体器件性能进行测试的系统
105、 微机电系统器件加工中绝缘层与半导体导电层图形对准误差电学测试结构
106、 电力半导体芯片门阴结加压测试方法及装置
107、 半导体存储器件、存储系统和测试存储系统的方法
108、 延迟电路、测试装置、存储介质、半导体芯片、初始化电路及初始化方法
109、 半导体存储装置的测试方法及其半导体存储装置
110、 使用温度可调的卡盘设备来测试半导体晶片的方法和装置
111、 用于半导体集成电路测试的器件接口板
112、 一种用于测试半导体装置的设备
113、 半导体集成电路和测试方法
114、 用于具有半导体集成电子装置用的垂直探针的测试头的接触探针
115、 用于测试不同的半导体装置的通用系统
116、 数字视频数据测试系统及半导体器件
117、 半导体元件测试装置、测试方法及该测试装置制造方法
118、 多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法
119、 TEG图案及利用TEG图案的半导体器件的测试方法
120、 半导体装置以及用于测试半导体装置的测试电路和测试方法
121、 推进机、推进机单元以及半导体测试装置
122、 信号发送接收装置、测试装置、测试模块及半导体芯片
123、 半导体元件稳压测试方法及稳压测试治具
124、 光信号接收装置、测试装置、光信号接收方法、测试方法、测试模块及半导体芯片
125、 半导体测试装置、功能板以及接口板
126、 半导体器件和测试半导体器件的方法
127、 修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法
128、 在半导体制造工艺中测试晶圆及找出产生缺陷原因的方法
129、 半导体器件、半导体芯片、芯片间互连测试方法以及芯片间互连切换方法
130、 半导体装置、测试模式控制电路
131、 半导体薄膜材料紫外透过率均匀性测试系统
132、 顺序输出熔丝切断信息的半导体器件和测试系统
133、 半导体测试板的接点结构改良
134、 带有半导体制冷除水机构的尾气排放测试分析仪
135、 半导体材料电信号测试装置
136、 半导体封装元件测试装置
137、 便携式半导体激光器自动测试仪
138、 气压扫描半导体激光器线宽测试仪
139、 一种半导体器件特性分析测试装置
140、 一种控温的半导体光电特性测试样品架
141、 变温的高阻半导体材料光电测试装置
142、 半导体封装元件的测试装置
143、 半导体元件测试的工具
144、 用于测试半导体封装元件的治具
145、 测量半导体硅材料PN型及电阻率的多功能测试仪
146、 胶体金和半导体荧光纳米粒子双标记快速免疫检测试纸
147、 万用型半导体检测机的测试机构
148、 半导体外延片性能自动测试装置及其测试方法
149、 半导体集成电路及其静电耐压测试方法与装置
150、 测试半导体器件的装置和方法
151、 半导体电路及测试、监控及接近应用设定半导体电路之方法
152、 使用漏电流的半导体测试设备和漏电流的补偿系统
153、 半导体集成电路的测试装置
154、 半导体测试处理器中放置半导体器件的装置
155、 半导体组件测试方法及测试半导体组件之系统
156、 半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置
157、 半导体集成电路装置及其测试方法
200410057582 用于测试半导体存储器件的装置和方法
159、 半导体装置的测试方法
160、 半导体封装器件及其制造和测试方法
161、 模拟电路图形评估方法、半导体集成电路的制造方法、测试衬底以及测试衬底组
162、 半导体组件测试方法及半导体组件测试系统
163、 半导体装置以及半导体装置的测试方法
164、 半导体器件及其测试方法
165、 半导体集成电路验证方法和测试模式准备方法
166、 半导体器件及其测试方法
167、 具有高级测试模式的半导体存储装置
168、 半导体器件的测试图案及利用其的测试方法
169、 具有易于更换的接口单元的半导体测试系统
170、 半导体装置测试装置、测试系统及测试方法
171、 半导体集成电路的测试方法和半导体集成电路
172、 集成印刷电路板以及用于高速半导体测试的测试接触器
173、 半导体存储器件和半导体存储器件的测试方法
174、 半导体圆片测试用高性能探针系统
175、 带有在IO监视内部计时控制信号的测试模式的半导体存储器器件
176、 测试半导体存储单元和存储阵列的可编程性的方法和电路
177、 带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法
178、 用于半导体器件测试处理器的传送器组件
179、 半导体设备及其测试方法
180、 半导体器件测试装置
181、 半导体存储器的测试方法
182、 半导体测试装置和半导体测试方法
183、 缩短测试所需时间的半导体存储器
184、 简易升级型高容量式半导体晶片测试装置
185、 半导体器件处理机中的测试温度偏差补偿装置
186、 用于半导体器件处理机的具有载体组件的测试托盘
187、 半导体装置测试结构与形成方法
188、 检测半导体元件中位元线偏移的测试元件及测试方法
189、 复数个半导体封装结构的测试方法
190、 探针板和半导体芯片的测试方法、电容器及其制造方法
191、 测试方法、半导体器件和显示设备
192、 并列测试及烧录系统中读取半导体晶元资料之方法
193、 半导体器件用连接器装置以及半导体器件的测试方法
194、 具有增强测试能力的半导体存储设备
195、 半导体测试装置
196、 对半导体器件进行并行测试的装置和方法
197、 用于半导体集成电路的可测试性的技术
198、 半导体储存器和半导体储存器的测试方法
199、 半导体集成电路和存储器测试方法
200、 半导体器件及其测试方法
201、 测试半导体装置及载具间接触之测试装置、系统及方法
202、 带有测试功能和冗余功能的半导体存储装置
203、 一种半导体中测试球栅阵列封装芯片的接触器
204、 半导体元件的测试方法
205、 测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡及其☎15542181913
206、 半导体集成电路测试装置及半导体集成电路制造方法
207、 测试半导体存储器件的方法和半导体存储器件的测试电路
208、 具有降低封装测试时间的半导体存储装置
209、 半导体器件及其测试方法
210、 半导体器件、半导体封装以及用于测试半导体器件的方法
211、 利用击穿电压的半导体存储单元薄氧化层的测试方法
212、 半导体测试电路、半导体存储器件和半导体测试方法
213、 一种半导体测试用的检测卡
214、 半导体器件及其制造方法和半导体器件的测试方法
215、 用于测试半导体器件的处理器
216、 半导体记忆装置测试方法及装置
217、 用以厘清漏电流发生原因的半导体测试结构
218、 标准测试环境中加热半导体器件的系统和方法
219、 用于测试半导体封装的连接器
220、 半导体测试装置及其控制方法
221、 用于测试半导体器件的插座组件
222、 半导体器件及制造方法、器件形成基片和布线连接测试法
223、 包括熔丝的半导体器件及能够抑制错误确定的其测试方法
224、 使用最少引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法
225、 带有半导体衬底和测试结构的半导体产品及方法
226、 测试半导体器件的电路和方法
227、 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法
228、 半导体集成电路以及测试系统
229、 用于测试凸点的倒装芯片半导体封装及其制造方法
230、 半导体存储装置及其测试方法和测试电路
231、 具有测试电路之半导体晶圆及制造方法
232、 测试半导体器件中的膜层厚度专用的新图形识别标记
233、 有针对性应用的基于事件的半导体存储器测试系统
234、 同时测多个金属-氧化物-半导体器件热载流子的测试结构
235、 测试半导体存储设备的装置与方法
236、 用测试结构制作半导体元件的方法
237、 半导体器件、其测试方法和设备及制造半导体器件的方法
238、 半导体存储装置及其测试方法
239、 半导体电路装置及测试半导体装置系统
240、 半导体构装元件的自动化测试装置
241、 在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统
242、 半导体存储装置、测试电路和方法
243、 非共面电极半导体激光器芯片高频特性测试台
244、 用于半导体存储装置的存储单元测试电路及其方法
245、 半导体测试管理系统及方法
246、 半导体测试系统
247、 半导体存储装置和测试方法
248、 测试半导体器件内的通孔中的残留物的测试结构
249、 半导体构装元件的测试方法
250、 半导体衬底、半导体器件制造方法和半导体器件测试方法
251、 半导体晶片的实时在线测试
252、 半导体存储设备的测试模式进入的电路和方法
253、 开发半导体集成电路测试程序的方法和构造
254、 用于测试半导体器件的处理机的传送器
255、 一种半导体晶圆片多路测试方法和多路测试探针台
256、 防止半导体器件中大电流损伤的电容器击穿测试结构
257、 借助于位掩码来测试半导体芯片的方法
258、 用于利用寄存器组来测试半导体芯片的方法
259、 用于测试半导体器件的处理机的测试托盘
260、 用于半导体测试的方法和装置
261、 半导体测试管理系统及方法
262、 用于半导体的测试设备
263、 半导体测试装置
264、 半导体材料残余应力的测试装置及方法
265、 半导体测试系统
266、 用于测试半导体器件的处理机
267、 半导体存储器件和半导体存储器件测试方法
268、 半导体器件和用于测试半导体器件的方法
269、 半导体器件的测试装置以及测试方法
270、 接合器、以及使用其的半导体测试装置
271、 使用具有集成电路的小片进行半导体测试的方法和装置
272、 测试程式除错装置及半导体测试装置及测试程式除错方法及测试方法
273、 半导体器件及其测试方法
274、 半导体集成电路和测试其间的连接状态的方法
275、 用于测试和配置半导体功能电路的系统和方法
276、 半导体测试装置和接口板
277、 熔丝切断测试电路、熔丝切断测试方法以及半导体电路
278、 用于确定与半导体工艺步骤有关的蚀刻偏置的测试装置和方法
279、 半导体激光器温度特性参数即升即测测试装置及方法
280、 半导体存储器和半导体存储器的预烧测试方法
281、 半导体阵列测试器
282、 缓冲电路、驱动电路、半导体测试装置及半导体集成电路
283、 电压测量方法电测试方法和装置半导体器件制造方法和器件衬底制造方法
284、 使用内部半导体结来辅助非接触型测试的方法
285、 半导体测试装置
286、 内建测试电路的半导体芯片
287、 用于防止噪声干扰的半导体测试板结构
288、 用于半导体测试板的防止噪声干扰的探针结构
289、 检测半导体晶片上局部失效的测试方法
290、 用于测试堆叠管芯半导体器件的方法和配置
291、 测试半导体器件栅氧化物整体性的带解码器的测试键
292、 半导体光电子器件芯片测试用的夹具
293、 确定半导体装置中开路和短路的线路测试结构及其形成方法
294、 半导体产品的测试成品率估计方法和系统
295、 半导体设备测试装置及半导体设备测试方法
296、 半导体集成电路及其测试方法
297、 膜层结构及其移除方法及半导体机器的测试方法
298、 用于半导体设备测试的双通道电源测量装置
299、 用于半导体器件测试夹具和测试组件的电连接器
300、 具有测试功能的半导体集成电路及制造方法
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2、 半导体存储装置及其测试方法
3、 装有存储器和逻辑芯片的可测试存储器芯片的半导体器件
4、 半导体存储器及其测试方法
5、 半导体测试器件的测试板分割装置
6、 半导体集成电路及其测试方法
7、 用于快速测试的半导体取送机
8、 半导体器件测试处理机中的校准装置
9、 识别半导体器件测试处理机中器件传送系统的工作位置的装置和方法
10、 半导体器件的测试系统
11、 半导体封装元件测试装置
12、 半导体集成电路的设计方法和测试方法
13、 维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统
14、 具有测试模式的半导体存储器及应用它的存储系统
15、 半导体存储装置及其测试方法和测试电路
16、 半导体测试用测试板
17、 半导体测试装置、半导体器件测试用接触基板、半导体器件的测试方法、半导体器件及其制造方法
18、 在半导体测试系统中利用通用操作系统生成具有高时间精度的序列
19、 未封装半导体芯片的测试装置
20、 半导体存储器及其测试电路、存储器系统、和数据传送系统
21、 控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及测试法
22、 半导体元件直流耐压自动测试器
23、 半导体存储器件多位并行测试方法
24、 半导体器件特性测试装置
25、 半导体存储器件应力状态的自动测试设备
26、 半导体光敏管动态特性测试方法
27、 半导体存贮器的老化使能电路及相应的老化测试方法
28、 半导体存储器的多位测试电路
29、 具有可测试部件块的半导体集成电路
30、 带有测试电路的半导体集成电路
31、 有待测其存储电路的半导体器件、测试方法及其读电路
32、 一种测试半导体存储器件的方法及一种半导体存储器件
33、 半导体存储装置及其测试方法
34、 半导体器件及其测试方法
35、 半导体元件分离端缺陷评价测试结构和评价方法
36、 半导体器件测试装置
37、 动态型半导体存储器及其测试方法
38、 半导体装置及其制造方法和其测试方法
39、 用于测试半导体装置的机械手系统中的传送带装置
40、 半导体器件的测试设备
41、 半导体器件测试装置
42、 半导体集成电路和同步动态随机存储器核心的测试方法
43、 半导体测试系统
44、 控制半导体集成电路测试过程的系统和方法
45、 半导体元件测试装置
46、 用于测试半导体装置的机械手系统的取放装置
47、 半导体器件测试仪器和用于该测试仪器的测试盘
48、 有能将测试方式可靠复位的电路的同步型半导体存储装置
49、 半导体集成电路测试装置
50、 具有测试模式的半导体存储装置
51、 不管备用单元配置情况如何都能进行测试的半导体存储器
52、 半导体器件的测试方法和带标识晶体管电路的半导体器件
53、 半导体器件的修补测试方法
54、 具有内部测试电路的半导体集成电路器件
55、 组合式半导体可靠性测试系统
56、 半导体器件的测试及半导体器件制造方法
57、 半导体器件测试座和使用该座的半导体器件制造方法
58、 数模转换器以及使用其的半导体集成电路和测试方法
59、 半导体组件和测试与运作一个半导体组件的方法
60、 半导体器件测试装置的测试头定位装置
61、 操作损耗减小的半导体器件测试系统
62、 半导体器件测试装置
63、 用于检测半导体器件测试设备操作错误的方法
64、 半导体器件测试用探针及其制造方法和使用它的探针装置
65、 测试半导体器件的探针卡及半导体器件测试方法
66、 半导体存储器器件以及在测试模式中读取该器件的方法
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68、 具有可测试部件块的半导体集成电路
69、 一种清洁半导体集成块测试插座的清洁膜和清洁方法
70、 半导体集成电路及其测试方法
71、 通道设置密集且低成本的用于互补型金属氧化物半导体的测试器
72、 具有可抑制电路规模增大的测试电路的半导体装置和半导体装置的试验装置
73、 用于检测数字半导体电路装置的测试电路及方法
74、 测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡和方法
75、 有测试模式判断电路的半导体存储器
76、 半导体器件测试用接触开关及其制造方法
77、 故障检测半导体测试系统
78、 特定用途的基于事件的半导体存储器测试系统
79、 半导体测试系统的数据失效存储压缩
80、 用于半导体测试系统的电源电流测量单元
81、 基于特定应用事件的半导体测试系统
82、 测试半导体器件的方法和设备
83、 半导体器件测试方法和测试装置
84、 半导体集成电路的测试方法和测试装置
85、 半导体集成电路器件的制造方法及其测试设备
86、 半导体器件及用于制造半导体器件的测试方法
87、 远程半导体测试方法和装置
88、 半导体集成电路的测试装置及半导体集成电路的测试方法
89、 可缩短测试时间的半导体存储装置
90、 为优化测试技术和冗余技术而形成的半导体存储器件
91、 用于减少输入测试模式的输入周期数的半导体存储器
92、 半导体测试仪的程序执行系统
93、 基于事件的半导体测试系统
94、 用于半导体测试系统的模式发生器
95、 具有测试元件组元件的半导体器件
96、 半导体存储器元件测试结构及其装置和测试方法
97、 可扩充频道的半导体多管芯测试系统及方法
98、 具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统
99、 电压测量方法电测试方法和装置半导体器件制造方法和器件衬底制造方法
100、 支持多虚拟逻辑测试仪的半导体测试系统
101、 基于模块的灵活的半导体测试系统
102、 半导体测试装置及其监视装置
103、 半导体集成电路和测试容易化电路的自动插入方法
104、 一种对气体传感器或半导体器件性能进行测试的系统
105、 微机电系统器件加工中绝缘层与半导体导电层图形对准误差电学测试结构
106、 电力半导体芯片门阴结加压测试方法及装置
107、 半导体存储器件、存储系统和测试存储系统的方法
108、 延迟电路、测试装置、存储介质、半导体芯片、初始化电路及初始化方法
109、 半导体存储装置的测试方法及其半导体存储装置
110、 使用温度可调的卡盘设备来测试半导体晶片的方法和装置
111、 用于半导体集成电路测试的器件接口板
112、 一种用于测试半导体装置的设备
113、 半导体集成电路和测试方法
114、 用于具有半导体集成电子装置用的垂直探针的测试头的接触探针
115、 用于测试不同的半导体装置的通用系统
116、 数字视频数据测试系统及半导体器件
117、 半导体元件测试装置、测试方法及该测试装置制造方法
118、 多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法
119、 TEG图案及利用TEG图案的半导体器件的测试方法
120、 半导体装置以及用于测试半导体装置的测试电路和测试方法
121、 推进机、推进机单元以及半导体测试装置
122、 信号发送接收装置、测试装置、测试模块及半导体芯片
123、 半导体元件稳压测试方法及稳压测试治具
124、 光信号接收装置、测试装置、光信号接收方法、测试方法、测试模块及半导体芯片
125、 半导体测试装置、功能板以及接口板
126、 半导体器件和测试半导体器件的方法
127、 修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法
128、 在半导体制造工艺中测试晶圆及找出产生缺陷原因的方法
129、 半导体器件、半导体芯片、芯片间互连测试方法以及芯片间互连切换方法
130、 半导体装置、测试模式控制电路
131、 半导体薄膜材料紫外透过率均匀性测试系统
132、 顺序输出熔丝切断信息的半导体器件和测试系统
133、 半导体测试板的接点结构改良
134、 带有半导体制冷除水机构的尾气排放测试分析仪
135、 半导体材料电信号测试装置
136、 半导体封装元件测试装置
137、 便携式半导体激光器自动测试仪
138、 气压扫描半导体激光器线宽测试仪
139、 一种半导体器件特性分析测试装置
140、 一种控温的半导体光电特性测试样品架
141、 变温的高阻半导体材料光电测试装置
142、 半导体封装元件的测试装置
143、 半导体元件测试的工具
144、 用于测试半导体封装元件的治具
145、 测量半导体硅材料PN型及电阻率的多功能测试仪
146、 胶体金和半导体荧光纳米粒子双标记快速免疫检测试纸
147、 万用型半导体检测机的测试机构
148、 半导体外延片性能自动测试装置及其测试方法
149、 半导体集成电路及其静电耐压测试方法与装置
150、 测试半导体器件的装置和方法
151、 半导体电路及测试、监控及接近应用设定半导体电路之方法
152、 使用漏电流的半导体测试设备和漏电流的补偿系统
153、 半导体集成电路的测试装置
154、 半导体测试处理器中放置半导体器件的装置
155、 半导体组件测试方法及测试半导体组件之系统
156、 半导体激光器参数测试用填充液态导热媒质控温装置
157、 半导体集成电路装置及其测试方法
200410057582 用于测试半导体存储器件的装置和方法
159、 半导体装置的测试方法
160、 半导体封装器件及其制造和测试方法
161、 模拟电路图形评估方法、半导体集成电路的制造方法、测试衬底以及测试衬底组
162、 半导体组件测试方法及半导体组件测试系统
163、 半导体装置以及半导体装置的测试方法
164、 半导体器件及其测试方法
165、 半导体集成电路验证方法和测试模式准备方法
166、 半导体器件及其测试方法
167、 具有高级测试模式的半导体存储装置
168、 半导体器件的测试图案及利用其的测试方法
169、 具有易于更换的接口单元的半导体测试系统
170、 半导体装置测试装置、测试系统及测试方法
171、 半导体集成电路的测试方法和半导体集成电路
172、 集成印刷电路板以及用于高速半导体测试的测试接触器
173、 半导体存储器件和半导体存储器件的测试方法
174、 半导体圆片测试用高性能探针系统
175、 带有在IO监视内部计时控制信号的测试模式的半导体存储器器件
176、 测试半导体存储单元和存储阵列的可编程性的方法和电路
177、 带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法
178、 用于半导体器件测试处理器的传送器组件
179、 半导体设备及其测试方法
180、 半导体器件测试装置
181、 半导体存储器的测试方法
182、 半导体测试装置和半导体测试方法
183、 缩短测试所需时间的半导体存储器
184、 简易升级型高容量式半导体晶片测试装置
185、 半导体器件处理机中的测试温度偏差补偿装置
186、 用于半导体器件处理机的具有载体组件的测试托盘
187、 半导体装置测试结构与形成方法
188、 检测半导体元件中位元线偏移的测试元件及测试方法
189、 复数个半导体封装结构的测试方法
190、 探针板和半导体芯片的测试方法、电容器及其制造方法
191、 测试方法、半导体器件和显示设备
192、 并列测试及烧录系统中读取半导体晶元资料之方法
193、 半导体器件用连接器装置以及半导体器件的测试方法
194、 具有增强测试能力的半导体存储设备
195、 半导体测试装置
196、 对半导体器件进行并行测试的装置和方法
197、 用于半导体集成电路的可测试性的技术
198、 半导体储存器和半导体储存器的测试方法
199、 半导体集成电路和存储器测试方法
200、 半导体器件及其测试方法
201、 测试半导体装置及载具间接触之测试装置、系统及方法
202、 带有测试功能和冗余功能的半导体存储装置
203、 一种半导体中测试球栅阵列封装芯片的接触器
204、 半导体元件的测试方法
205、 测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡及其☎15542181913
206、 半导体集成电路测试装置及半导体集成电路制造方法
207、 测试半导体存储器件的方法和半导体存储器件的测试电路
208、 具有降低封装测试时间的半导体存储装置
209、 半导体器件及其测试方法
210、 半导体器件、半导体封装以及用于测试半导体器件的方法
211、 利用击穿电压的半导体存储单元薄氧化层的测试方法
212、 半导体测试电路、半导体存储器件和半导体测试方法
213、 一种半导体测试用的检测卡
214、 半导体器件及其制造方法和半导体器件的测试方法
215、 用于测试半导体器件的处理器
216、 半导体记忆装置测试方法及装置
217、 用以厘清漏电流发生原因的半导体测试结构
218、 标准测试环境中加热半导体器件的系统和方法
219、 用于测试半导体封装的连接器
220、 半导体测试装置及其控制方法
221、 用于测试半导体器件的插座组件
222、 半导体器件及制造方法、器件形成基片和布线连接测试法
223、 包括熔丝的半导体器件及能够抑制错误确定的其测试方法
224、 使用最少引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法
225、 带有半导体衬底和测试结构的半导体产品及方法
226、 测试半导体器件的电路和方法
227、 半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法
228、 半导体集成电路以及测试系统
229、 用于测试凸点的倒装芯片半导体封装及其制造方法
230、 半导体存储装置及其测试方法和测试电路
231、 具有测试电路之半导体晶圆及制造方法
232、 测试半导体器件中的膜层厚度专用的新图形识别标记
233、 有针对性应用的基于事件的半导体存储器测试系统
234、 同时测多个金属-氧化物-半导体器件热载流子的测试结构
235、 测试半导体存储设备的装置与方法
236、 用测试结构制作半导体元件的方法
237、 半导体器件、其测试方法和设备及制造半导体器件的方法
238、 半导体存储装置及其测试方法
239、 半导体电路装置及测试半导体装置系统
240、 半导体构装元件的自动化测试装置
241、 在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统
242、 半导体存储装置、测试电路和方法
243、 非共面电极半导体激光器芯片高频特性测试台
244、 用于半导体存储装置的存储单元测试电路及其方法
245、 半导体测试管理系统及方法
246、 半导体测试系统
247、 半导体存储装置和测试方法
248、 测试半导体器件内的通孔中的残留物的测试结构
249、 半导体构装元件的测试方法
250、 半导体衬底、半导体器件制造方法和半导体器件测试方法
251、 半导体晶片的实时在线测试
252、 半导体存储设备的测试模式进入的电路和方法
253、 开发半导体集成电路测试程序的方法和构造
254、 用于测试半导体器件的处理机的传送器
255、 一种半导体晶圆片多路测试方法和多路测试探针台
256、 防止半导体器件中大电流损伤的电容器击穿测试结构
257、 借助于位掩码来测试半导体芯片的方法
258、 用于利用寄存器组来测试半导体芯片的方法
259、 用于测试半导体器件的处理机的测试托盘
260、 用于半导体测试的方法和装置
261、 半导体测试管理系统及方法
262、 用于半导体的测试设备
263、 半导体测试装置
264、 半导体材料残余应力的测试装置及方法
265、 半导体测试系统
266、 用于测试半导体器件的处理机
267、 半导体存储器件和半导体存储器件测试方法
268、 半导体器件和用于测试半导体器件的方法
269、 半导体器件的测试装置以及测试方法
270、 接合器、以及使用其的半导体测试装置
271、 使用具有集成电路的小片进行半导体测试的方法和装置
272、 测试程式除错装置及半导体测试装置及测试程式除错方法及测试方法
273、 半导体器件及其测试方法
274、 半导体集成电路和测试其间的连接状态的方法
275、 用于测试和配置半导体功能电路的系统和方法
276、 半导体测试装置和接口板
277、 熔丝切断测试电路、熔丝切断测试方法以及半导体电路
278、 用于确定与半导体工艺步骤有关的蚀刻偏置的测试装置和方法
279、 半导体激光器温度特性参数即升即测测试装置及方法
280、 半导体存储器和半导体存储器的预烧测试方法
281、 半导体阵列测试器
282、 缓冲电路、驱动电路、半导体测试装置及半导体集成电路
283、 电压测量方法电测试方法和装置半导体器件制造方法和器件衬底制造方法
284、 使用内部半导体结来辅助非接触型测试的方法
285、 半导体测试装置
286、 内建测试电路的半导体芯片
287、 用于防止噪声干扰的半导体测试板结构
288、 用于半导体测试板的防止噪声干扰的探针结构
289、 检测半导体晶片上局部失效的测试方法
290、 用于测试堆叠管芯半导体器件的方法和配置
291、 测试半导体器件栅氧化物整体性的带解码器的测试键
292、 半导体光电子器件芯片测试用的夹具
293、 确定半导体装置中开路和短路的线路测试结构及其形成方法
294、 半导体产品的测试成品率估计方法和系统
295、 半导体设备测试装置及半导体设备测试方法
296、 半导体集成电路及其测试方法
297、 膜层结构及其移除方法及半导体机器的测试方法
298、 用于半导体设备测试的双通道电源测量装置
299、 用于半导体器件测试夹具和测试组件的电连接器
300、 具有测试功能的半导体集成电路及制造方法
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