测试数据存储器技术
0003-0001、三维集成存储器
0038-0002、用于半导体存储器的芯片内可编程数据模式发生器
0021-0003、半导体存储器的多位测试电路
0103-0004、物理存储器的测试方法
0061-0005、一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法
0066-0006、存储器测试电路
0111-0007、确保高速倍速数据传送动态随机存取存储器的读信号完整性的测试模型
0058-0008、有多用途存储器的测试器系统
0068-0009、半导体集成电路和存储器测试方法
0097-0010、通用可访问完全可编程的存储器内置自测系统和方法
0007-0011、根据存取时的存储单元通过电流来读出数据的半导体存储器
0052-0012、以较低速度输出数据位的集成电路存储器装置及操作方法
0079-0013、具有串行输入，输出接口的多端口存储器装置
0116-0014、存储器测试
0024-0015、多处理器系统高速缓冲存储器的测试方法
0110-0016、多端口半导体存储器设备
0018-0017、用于测试随机存取存储器的高速写方法
0016-0018、具有共用控制存储器的多处理机控制器
0071-0019、用于测试数据存储器的测试方法
0034-0020、一种测试在存储器之间传送图像数据的方法
0114-0021、测试片上端接电路通断状态的半导体存储器件及测试方法
0040-0022、备有高速信息包数据输入的半导体存储器
0047-0023、用于安全写环形存储器指针的方法
0095-0024、半导体存储器装置的校正电路及其操作方法
0100-0025、用于自动提供集成存储器电路中熔丝元件的修复位置数据的方法
0067-0026、基于电编程三维存储器的集成电路自测试方法
0055-0027、采用时钟倍频器对嵌入式存储器进行自动比特故障映射
0088-0028、存储器在板测试方法
0081-0029、半导体存储器
0029-0030、存储器测试装置及存储器测试方法
0113-0031、半导体存储器及其测试方法
0019-0032、半导体存储器件多位并行测试方法
0005-0033、容错存储器模块电路
0086-0034、存储器装置、存储器控制方法和显示装置
0106-0035、具有串行输入，输出接口的多端口存储器装置
0046-0036、存储器自我测试的方法
0069-0037、非易失性存储器微机芯片及其测试方法
0091-0038、在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统
0082-0039、具有非易失存储器模块的电路装置和用于记录非易失存储器模块上的光冲击的方法
0014-0040、并行相联存储器
0051-0041、集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法
0042-0042、半导体存储器生产系统和半导体存储器生产方法
0112-0043、一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置
0010-0044、多端口压缩sRAMs(静态随机存取存储器、的真速内建自测试
0115-0045、具有测试电路的随机存取存储器
0011-0046、存储器内容的测试
0085-0047、存储器测试电路和存储器测试方法
0030-0048、测试在一个晶片上的多个存储器芯片的装置
0015-0049、基于存储器存取分析的内核电路自动验证
0078-0050、为存储器内建自测试提供灵活模块冗余分配的方法和设备
0070-0051、一种对同步动态随机存储器自测试的方法及其装置
0072-0052、使用非易失性铁电体存储器的测试模式控制装置
0117-0053、包括测试电路的随机存取存储器
0004-0054、半导体存储器
0119-0055、自储存装置上读取选择只读存储器程序代码的方法
0094-0056、用于校准随机存取存储器的方法和装置
0050-0057、一种存储器检测方法
0023-0058、半导体存储器
0121-0059、存储器、修复系统与其测试方法
0037-0060、存储器元件的测试电路
0096-0061、具有用于测量内部存储器宏的AC特性的测试电路的集成电路装置
0073-0062、存储器模块的测试方法及执行该方法的设备
0002-0063、半导体存储器及其测试方法
0104-0064、用于低功率动态随机存取存储器之之资料流设计
0020-0065、非易失性存储器的数据写入
0036-0066、具有非易失性存储器的信号处理装置及非易失性存储器的编程方法
0027-0067、防止将非实际数据电报存入计算机存储器的方法和装置
0107-0068、半导体存储器件
0045-0069、在基于事件的测试系统上用于存储器测试的模块化结构
0087-0070、具有数字接口的半导体器件、存储器元件与存储器模块
0074-0071、缺陷存储器的管理系统
0092-0072、具有并行测试的存储器模块
0054-0073、一种多端口存储器的测试方法
0009-0074、具有许多存储器组的同步半导体存储器设备和控制该设备的方法
0006-0075、半导体存储器件
0057-0076、使用存储器仿真模块的嵌入式微计算机单元及其测试方法
0060-0077、带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法
0108-0078、基于三维存储器进行自测试的集成电路
0065-0079、动态存储器模组的高效测试方法
0122-0080、测试只读存储器的电路
0049-0081、一种闪存存储器子卡测试装置及方法
0076-0082、可替换打印机部件所用存储器的稳健位方案
0001-0083、装有存储器和逻辑芯片的可测试存储器芯片的半导体器件
0109-0084、内嵌非易失存储器的系统集成芯片的安全测试方法
0063-0085、测试埋入式动态随机存取存储器电路的电路及方法
0105-0086、探测半导体存储器中电阻开路缺陷的方法
0028-0087、半导体存储器件及其检验与使用方法
0062-0088、存储器地址线测试方法
0056-0089、具有存储器器件的集成电路及用于测试该集成电路的方法
0101-0090、通过数据压缩处理以测试存储器的方法
0098-0091、利用锁存的数据和行地址扰频把测试数据拓扑写入存储器
0008-0092、防止对存储器中指令的不正当使用
0102-0093、用于检测在半导体存储器的全局数据总线中的电阻性桥接缺陷的方法
0077-0094、测试只读存储器的电路及其测试方法
0053-0095、检测优先编码器中错误的方法及其内容可寻址存储器
0080-0096、用于从存储器访问关键数据的系统和方法
0035-0097、测试可读写的集成电子电路尤其是存储器组件的总线接线的方法
0075-0098、异步双端口随机存储器复用驱动装置
0012-0099、控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及测试法
0041-0100、存储器装置
0043-0101、随机存储器的自动检测方法及其检测电路
0048-0102、利用片上检测放大器标定方法和装置的电阻交叉点存储器
0120-0103、半导体集成电路及存储器检查方法
0084-0104、测试存储器模块和存储器模块的中心单元的方法
0064-0105、半导体存储器的测试方法
0083-0106、测试埋入式动态随机访问存储器电路的模数测试控制器
0025-0107、测试带有多个存储器簇的多簇存储器件的方法和装置
0099-0108、一种对随机存储器封装文件进行仿真的仿真平台及方法
0033-0109、半导体存储器器件以及在测试模式中读取该器件的方法
0022-0110、动态型半导体存储器及其测试方法
0039-0111、检测静态随机存储器的方法
0031-0112、具有使电特性发生变化的电路的半导体存储器
0090-0113、用于存储器的可变刷新控制
0017-0114、只读存储器故障诊断的方法和设备
0044-0115、在非易失性存储器中存储引线校准数据的基于事件的测试系统
0093-0116、基本输入输出系统只读存储器数据检测系统及方法
0059-0117、带有在I，O监视内部计时控制信号的测试模式的半导体存储器器件
0118-0118、具有自测试功能的存储器控制器及其测试方法
0013-0119、大存储器有效地址测试法
0032-0120、使用单个存储器用于并行和扫描方式测试的集成电路测试系统
0026-0121、铁电随机存取存储器及测试短寿命单元的方法
0089-0122、对非易失性存储器中缺陷的区界调整
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0038-0002、用于半导体存储器的芯片内可编程数据模式发生器
0021-0003、半导体存储器的多位测试电路
0103-0004、物理存储器的测试方法
0061-0005、一种用查表功能指令实现存储器数据校验的方法
0066-0006、存储器测试电路
0111-0007、确保高速倍速数据传送动态随机存取存储器的读信号完整性的测试模型
0058-0008、有多用途存储器的测试器系统
0068-0009、半导体集成电路和存储器测试方法
0097-0010、通用可访问完全可编程的存储器内置自测系统和方法
0007-0011、根据存取时的存储单元通过电流来读出数据的半导体存储器
0052-0012、以较低速度输出数据位的集成电路存储器装置及操作方法
0079-0013、具有串行输入，输出接口的多端口存储器装置
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0024-0015、多处理器系统高速缓冲存储器的测试方法
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0018-0017、用于测试随机存取存储器的高速写方法
0016-0018、具有共用控制存储器的多处理机控制器
0071-0019、用于测试数据存储器的测试方法
0034-0020、一种测试在存储器之间传送图像数据的方法
0114-0021、测试片上端接电路通断状态的半导体存储器件及测试方法
0040-0022、备有高速信息包数据输入的半导体存储器
0047-0023、用于安全写环形存储器指针的方法
0095-0024、半导体存储器装置的校正电路及其操作方法
0100-0025、用于自动提供集成存储器电路中熔丝元件的修复位置数据的方法
0067-0026、基于电编程三维存储器的集成电路自测试方法
0055-0027、采用时钟倍频器对嵌入式存储器进行自动比特故障映射
0088-0028、存储器在板测试方法
0081-0029、半导体存储器
0029-0030、存储器测试装置及存储器测试方法
0113-0031、半导体存储器及其测试方法
0019-0032、半导体存储器件多位并行测试方法
0005-0033、容错存储器模块电路
0086-0034、存储器装置、存储器控制方法和显示装置
0106-0035、具有串行输入，输出接口的多端口存储器装置
0046-0036、存储器自我测试的方法
0069-0037、非易失性存储器微机芯片及其测试方法
0091-0038、在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统
0082-0039、具有非易失存储器模块的电路装置和用于记录非易失存储器模块上的光冲击的方法
0014-0040、并行相联存储器
0051-0041、集成有只读存储器的芯片及内建自测试系统及方法
0042-0042、半导体存储器生产系统和半导体存储器生产方法
0112-0043、一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置
0010-0044、多端口压缩sRAMs(静态随机存取存储器、的真速内建自测试
0115-0045、具有测试电路的随机存取存储器
0011-0046、存储器内容的测试
0085-0047、存储器测试电路和存储器测试方法
0030-0048、测试在一个晶片上的多个存储器芯片的装置
0015-0049、基于存储器存取分析的内核电路自动验证
0078-0050、为存储器内建自测试提供灵活模块冗余分配的方法和设备
0070-0051、一种对同步动态随机存储器自测试的方法及其装置
0072-0052、使用非易失性铁电体存储器的测试模式控制装置
0117-0053、包括测试电路的随机存取存储器
0004-0054、半导体存储器
0119-0055、自储存装置上读取选择只读存储器程序代码的方法
0094-0056、用于校准随机存取存储器的方法和装置
0050-0057、一种存储器检测方法
0023-0058、半导体存储器
0121-0059、存储器、修复系统与其测试方法
0037-0060、存储器元件的测试电路
0096-0061、具有用于测量内部存储器宏的AC特性的测试电路的集成电路装置
0073-0062、存储器模块的测试方法及执行该方法的设备
0002-0063、半导体存储器及其测试方法
0104-0064、用于低功率动态随机存取存储器之之资料流设计
0020-0065、非易失性存储器的数据写入
0036-0066、具有非易失性存储器的信号处理装置及非易失性存储器的编程方法
0027-0067、防止将非实际数据电报存入计算机存储器的方法和装置
0107-0068、半导体存储器件
0045-0069、在基于事件的测试系统上用于存储器测试的模块化结构
0087-0070、具有数字接口的半导体器件、存储器元件与存储器模块
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0092-0072、具有并行测试的存储器模块
0054-0073、一种多端口存储器的测试方法
0009-0074、具有许多存储器组的同步半导体存储器设备和控制该设备的方法
0006-0075、半导体存储器件
0057-0076、使用存储器仿真模块的嵌入式微计算机单元及其测试方法
0060-0077、带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法
0108-0078、基于三维存储器进行自测试的集成电路
0065-0079、动态存储器模组的高效测试方法
0122-0080、测试只读存储器的电路
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0076-0082、可替换打印机部件所用存储器的稳健位方案
0001-0083、装有存储器和逻辑芯片的可测试存储器芯片的半导体器件
0109-0084、内嵌非易失存储器的系统集成芯片的安全测试方法
0063-0085、测试埋入式动态随机存取存储器电路的电路及方法
0105-0086、探测半导体存储器中电阻开路缺陷的方法
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0056-0089、具有存储器器件的集成电路及用于测试该集成电路的方法
0101-0090、通过数据压缩处理以测试存储器的方法
0098-0091、利用锁存的数据和行地址扰频把测试数据拓扑写入存储器
0008-0092、防止对存储器中指令的不正当使用
0102-0093、用于检测在半导体存储器的全局数据总线中的电阻性桥接缺陷的方法
0077-0094、测试只读存储器的电路及其测试方法
0053-0095、检测优先编码器中错误的方法及其内容可寻址存储器
0080-0096、用于从存储器访问关键数据的系统和方法
0035-0097、测试可读写的集成电子电路尤其是存储器组件的总线接线的方法
0075-0098、异步双端口随机存储器复用驱动装置
0012-0099、控制器大容量存储器混装型半导体集成电路器件及测试法
0041-0100、存储器装置
0043-0101、随机存储器的自动检测方法及其检测电路
0048-0102、利用片上检测放大器标定方法和装置的电阻交叉点存储器
0120-0103、半导体集成电路及存储器检查方法
0084-0104、测试存储器模块和存储器模块的中心单元的方法
0064-0105、半导体存储器的测试方法
0083-0106、测试埋入式动态随机访问存储器电路的模数测试控制器
0025-0107、测试带有多个存储器簇的多簇存储器件的方法和装置
0099-0108、一种对随机存储器封装文件进行仿真的仿真平台及方法
0033-0109、半导体存储器器件以及在测试模式中读取该器件的方法
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0031-0112、具有使电特性发生变化的电路的半导体存储器
0090-0113、用于存储器的可变刷新控制
0017-0114、只读存储器故障诊断的方法和设备
0044-0115、在非易失性存储器中存储引线校准数据的基于事件的测试系统
0093-0116、基本输入输出系统只读存储器数据检测系统及方法
0059-0117、带有在I，O监视内部计时控制信号的测试模式的半导体存储器器件
0118-0118、具有自测试功能的存储器控制器及其测试方法
0013-0119、大存储器有效地址测试法
0032-0120、使用单个存储器用于并行和扫描方式测试的集成电路测试系统
0026-0121、铁电随机存取存储器及测试短寿命单元的方法
0089-0122、对非易失性存储器中缺陷的区界调整
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