时钟集成电路工艺生产工艺及应用
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时钟集成电路工艺生产工艺及应用
作者:百创科技    金属矿产来源:本站原创    点击数:    更新时间:2024/2/8
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(CD30025-0182-0005)系统大规模集成电路
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(CD30025-0202-0007)半导体集成电路及其控制方法
(CD30025-0098-0008)半导体集成电路
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(CD30025-0080-0010)集成电路系统及其控制方法
(CD30025-0108-0011)数据限幅电路、集成电路和数据检测方法
(CD30025-0194-0012)增加抗干扰能力的方法和集成电路
(CD30025-0229-0013)半导体集成电路以及半导体集成电路的布局方法
(CD30025-0241-0014)脉冲输出电能计量集成电路配套的智能限量用电控制装置
(CD30025-0091-0015)集成电路装置中调节和精确控制时钟占空因数的电路及方法
(CD30025-0069-0016)具有时钟发生器和双向时钟引脚装置的多时钟集成电路
(CD30025-0071-0017)集成电路装置、电子装置及集成电路装置中的配置方法
(CD30025-0064-0018)低耗电无触点集成电路
(CD30025-0085-0019)集成电路处理级中的差错恢复
(CD30025-0020-0020)半导体集成电路
(CD30025-0214-0021)可重构半导体集成电路及其处理分配方法
(CD30025-0021-0022)用于混合信号集成电路中单管脚复位的系统和方法
(CD30025-0150-0023)通信模块和收发器集成电路
(CD30025-0042-0024)内装输出信号定时调节器的半导体集成电路器件
(CD30025-0201-0025)时钟信号生成装置、半导体集成电路以及数据再生方法
(CD30025-0049-0026)锁存器电路和具有该锁存器电路的半导体集成电路
(CD30025-0228-0027)利用时钟嵌入多电平信号的显示器、定时控制器以及列驱动器集成电路
(CD30025-0075-0028)具有多个时钟域的集成电路的测试
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(CD30025-0143-0030)测试电路、集成电路及测试方法
(CD30025-0048-0031)半导体集成电路
(CD30025-0174-0032)半导体集成电路
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(CD30025-0090-0034)半导体集成电路
(CD30025-0043-0035)具有相位调节功能的半导体集成电路及使用其的系统
(CD30025-0126-0036)用于集成电路的时钟发生器
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(CD30025-0104-0039)脉冲输出电能计量集成电路配套的智能电力负荷调度装置
(CD30025-0145-0040)半导体集成电路器件的时钟延迟调节方法
(CD30025-0076-0041)半导体集成电路及其控制方法
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(CD30025-0025-0043)侦测集成电路受到非所欲的破坏的电路布置及方法
(CD30025-0173-0044)在线测量集成电路芯片参数弥散度和缺陷的方法和装置
(CD30025-0205-0045)具有双列结构的液晶显示器驱动器集成电路
(CD30025-0162-0046)半导体集成电路装置、信号处理装置及FM多重数据处理装置
(CD30025-0011-0047)时钟发生电路以及包含这种时钟发生电路的再生音频信号的集成电路
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(CD30025-0219-0055)半导体集成电路
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